- [檢測百科]分享：工作參數對紙張類不導電試樣掃描電鏡圖像質量的影響2025年05月28日 13:13
- 掃描電鏡（SEM）是一種利用高能聚焦電子束掃描試樣表面，通過電子束與試樣間的相互作用激發各種物理信息，并對這些信息調制成像，從而表征試樣的儀器。利用激發出的二次電子及背散射電子成像可得到試樣形貌信息。由于二次電子僅來自試樣表層10 nm區域，因此其對試樣表面狀態非常敏感，能夠有效展示試樣表面的微觀形貌[1-2]。而背散射電子能量高，其從試樣更深處逸出表面，對原子序數較為敏感，不僅能反映試樣的形貌特征，也能顯示原子序數襯度，從而分析試樣的成分[3-4]。 紙張的品質與其微觀結構
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浙公網安備 33042402000106號
